上海HCT测试系统保养

IST有什么好处？IST可快速获得结果。如果需要了解的东西很重要，可在一定时间范围内进行加速测试。它比热循环快，比其他测试方法快很多倍。IST消除了测试结果的不确定性。测试结果反映数百个PTH和互连结构的质量，所以发现随机出现的和潜在的质量问题的概率很高。测试可更准确地模拟组装、返工和**终使用环境，包括无铅焊接温度水平。在发生灾难性故障之前，IST停止测试，所以可以对根本性缺陷进行临界评估。IST和热映像整合在一起，使用户发现并评估故障模式的能力**提高。上海柏毅试验设备有限公司的产品和技术都非常成熟。公司拥有技术和产品专业技术100余份，公司研发团队实力雄厚，新品研发效率比较高；通过多年的沉淀积累，拥有多项专业技术，通ISO9001:2015质量管理体系认证，可生产符合MIL、IEC、DIN等各种国际标准的环境试验设备。 上海柏毅试验设备有限公司可以提供各种测试系统，随时欢迎您的咨询！上海HCT测试系统保养

基于测试需求的不断提高，对测试精度与可靠性、稳定性方面提出了更加苛刻的要求。特别是在CAF测试中，失效点非常难找，而在测试数据上，可能只有一个或两个点的数据，数据量不足以支撑失效分析验证。因此可能会对失效原因分析及不便利，试验过程也就反反复复，增加了工作量，确也不能提高分析结果的可靠性。系统主要应用：1、离子迁移测试评估；2、绝缘电阻性能劣化测试评估；3、印制电路板、焊锡、焊剂、封装树胶等；4、GBA、DSP等微间距图形IC封装；5、电容器、连接器及其它电子器件及材料；6、绝缘材料吸湿特性测试评估。上海柏毅试验设备有限公司的产品和技术都非常成熟。公司拥有技术和产品专业技术100余份，公司研发团队实力雄厚，新品研发效率比较高；通过多年的沉淀积累，拥有多项专业技术，通ISO9001:2015质量管理体系认证，可生产符合MIL、IEC、DIN等各种国际标准的环境试验设备。 广东CAF测试系统哪家好各种测试系统，就选上海柏毅试验设备有限公司，用户信赖之选，详情请致电咨询！

HCT测试，Highcurrenttest，耐电流测试，Currentloadingtest耐电流测试是测试PCB产品的孔互联可靠性的一种测试方法。耐电流测试是在特殊设计的孔链上施加一定的直流电流，并持续一段时间，电流在孔链上产生焦耳热，热量传导到孔附近的基材，基材受热膨胀，Z方向尺寸变大，产生膨胀应力，作用于孔上下焊盘之间，当孔的互联可靠性不良时，膨胀应力会导致孔断裂，从而检测出孔的互联可靠性不良。耐电流测试具有快速的特点。耐电流测试具有直观的特点。耐电流测试具有范围较广的特点，所有印制电路板在制板上均可以设置孔链。上海柏毅试验设备有限公司的产品和技术都非常成熟。公司拥有技术和产品**100余份，公司研发团队实力雄厚，新品研发效率比较高；通过多年的沉淀积累，拥有多项技术**，通ISO9001:2015质量管理体系认证，可生产符合MIL、IEC、DIN等各种国际标准的环境试验设备。

TDR测试目前主要使用于PCB(印制电路板)信号线、以及器件阻抗的测试。影响TDR测试精度有很多的原因，主要有反射、校准、读数选择等，反射会导致较短的PCB信号线测试值出现严重偏差，特别是在使用TIP(探针)去测试的情况下更为明显，因为TIP和信号线接触点会导致很大的阻抗不连续，导致反射发生，并导致附近三、四英寸左右范围的PCB信号线的阻抗曲线起伏。比如单端信号线，差分信号线，连接器等。这种测试有一个要求，就是和实际应用的条件相结合，比如实际该信号线的信号上升沿在300ps左右，那么TDR的输出脉冲信号的上升沿也要相应设置在300ps附近，而不使用30ps左右的上升沿，否则测试结果可能和实际应用有比较大的差别。 上海柏毅试验设备有限公司专业提供各类测试系统，欢迎您的咨询！

    如何提高生产效率和良品率，需要我们在投入大规模产量之前，进行smt贴片加工可焊性测试，这时我们需要对测试PCB原型的样品进行老化处理。因为，新生产的部件或PCB电路板焊接面一般是没有问题的，但存放一段时间后会因氧化而变质。测试必须考虑正常储存条件对可焊性的影响。斯派克恒温恒湿试验箱可检测到焊端涂层的金属性能和预期引起产品质量下降的原因。PCB元器件和电子制造行业，PCB通常要求有一定的存放保质期，通常是6-12个月。因此，要等待这段周期后再进行测量显然不切实际，必须采用加速存储老化的方法，较常用的测试设备是高压加速老化试验箱。高压加速老化试验箱是提高环境应力（温度&湿度&压力），在不饱和湿度环境下（湿度∶85%.）加快试验过程缩短试验时间，用来评定PCB压合&绝缘电阻，与相关材料的吸湿效果状况，缩短高温高湿的试验时间(85℃/85%→110℃/85%),作者：斯派克环境仪器链接：源：知乎著作权归作者所有。商业转载请联系作者获得授权，非商业转载请注明出处。 各种测试系统，就选上海柏毅试验设备有限公司，用户信赖之选，如您有需要，请致电！湖北MCR测试系统特点

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离子迁移(CAF)测试是评价电子产品或元件的绝缘可靠性的一种测试方法，将样品置于高温高湿度的环境中，并在相邻的两个绝缘网络之间施加一定的直流电压（偏置电压），在长时间的测试条件下，检测两个网络之间是否有绝缘失效。实践证明，将PCB放置于高温高湿的环境试验箱中，并在线路板上焊接电缆线，施加偏置电压，然后每隔一段时间，将PCB从环境试验箱中取出，进行绝缘电阻测试，这种间断式的测试方法，会漏过很多实际发生的离子迁移。一方面因为将PCB从环境试验箱中取出，PCB会变得干燥，从而导致绝缘电阻的上升，另一方面，当PCB在高温高湿的环境试验箱中承受偏置电压时，离子迁移可能随时发生。上海柏毅试验设备有限公司欢迎您的咨询，我们将竭诚为您服务！ 上海HCT测试系统保养

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